贝士德比表面积孔径分析仪是一款高性能的气体吸附分析设备，支持1、2或4个样品分析站和2或4个脱气站配置，测试精度高、重复性好，误差小于±1%。可测量比表面积高达0.0005㎡/g，孔径范围覆盖0.35-500nm。采用分析与脱气系统分离设计，显著提升测试效率。广泛适用于材料研发、催化剂、吸附剂等领域的微观结构分析。

M7140PhysiMaster 7140 (PM7140)系列全自动物理吸附仪是一款多站快速比表面及孔分布分析仪器，仪器配有可以独立使用的8站式脱气站，触摸屏程序升温控制，仪器提供4站式分析站，具有性价比高、空间占用小、升级简易、分析过程全自动、各种意外情况处理安全有效等特点，测试软件支持用户自定义压力点文件（吸、脱附相对压力点个数可多至1000个），并提供多种数据处理模型。

DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面积测定仪，基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定，相比传统产品，实现准确和快速两大超越 准：可准确测试超小比表面积0.1 m2/g的标准样品，精确到0.01m2/g。 快：测试速度是传统产品的3倍，可实现1小时28个标准样品的超高测试效率。 非常适合钴酸锂、三元材料、磷酸铁锂、石墨、硅碳等电池正负极材料及其他小比表面积样品的测试。

JW-DX 是精微高博自主研发的动态比表面积测定仪，采用专、利吸附峰分析技术，特别适用于三元材料、石墨等小比表面积样品的精准测定。4个独立测试通道，无干扰、无差异，确保数据高重复性与平行性。支持选配外置真空脱气装置，有效提升测试效率。全自动操作系统，界面直观，测试结果实时呈现，数据可脱机分析，适配高通量、快节奏实验室应用。

BSD-660S 是一款高精度、全自动的比表面积及孔径分析设备，支持0.0005㎡/g以上比表面积及0.35-500nm孔径测试范围。配备多点 BET 测试模式和极速分析模式，最快15分钟完成12个样品分析。软件智能控制升温与脱气，误差低至0.5%RSD，适用于材料研发、催化剂、纳米材料等微观结构分析。

BSD-PS 系列比表面积及孔径分析仪是一款高性能的气体吸附分析设备，支持1、2或4个样品分析站和2或4个脱气站配置，测试精度高、重复性好，误差小于±1%。可测量比表面积高达0.0005㎡/g，孔径范围覆盖0.35-500nm。采用分析与脱气系统分离设计，显著提升测试效率。广泛适用于材料研发、催化剂、吸附剂等领域的微观结构分析。