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比表面积及孔径分析仪操作步骤
  • DX 400精微高博比表面积分析仪
    DX 400精微高博比表面积分析仪

    DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面积测定仪，基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定，相比传统产品，实现准确和快速两大超越 准：可准确测试超小比表面积0.1 m2/g的标准样品，精确到0.01m2/g。 快：测试速度是传统产品的3倍，可实现1小时28个标准样品的超高测试效率。 非常适合钴酸锂、三元材料、磷酸铁锂、石墨、硅碳等电池正负极材料及其他小比表面积样品的测试。

    更新时间：2025-09-30
    产品型号：DX 400
    浏览量：109
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