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  • JW-DX精微高博 动态比表面积测定仪

    JW-DX 是精微高博自主研发的动态比表面积测定仪,采用专、利吸附峰分析技术,特别适用于三元材料、石墨等小比表面积样品的精准测定。4个独立测试通道,无干扰、无差异,确保数据高重复性与平行性。支持选配外置真空脱气装置,有效提升测试效率。全自动操作系统,界面直观,测试结果实时呈现,数据可脱机分析,适配高通量、快节奏实验室应用。

    更新时间:2025-09-30
    产品型号:JW-DX
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